熱電特性評價裝置 ZEM-3系列的測量原理分析

這是一種同時測量熱電材料的熱電率（塞貝克系數(shù)）和電導率的裝置。我們準備了溫度范圍為-80°C至1000°C的測量儀器，操作簡單。

用途

半導體，陶瓷，金屬等廣泛材料的熱電特性評價。

樣品以圓柱形或方柱的形式垂直放置在加熱爐中的上塊和下塊之間。通過下塊中的加熱器給樣品施加溫度梯度，同時將樣品加熱并保持在規(guī)定的溫度。塞貝克系數(shù)的測量是通過測量壓在樣品側面的熱電偶上的上部和下部T1，T2與熱電偶一側的同一股線之間的熱電動勢dE來確定的。
電阻測量采用直流四端法，通過在樣品兩端施加恒定電流I，測量熱電偶同一元件線之間的電壓降dV，并去除引線之間的熱電動勢來確定。

P型Si80Ge20燒結體的測量實例

特長

• 采用溫度可控性優(yōu)異的紅外線金像加熱爐和溫差控制用微加熱器

• 測量由計算機控制，可以在規(guī)定溫度下對各溫差進行測量，也可以消除暗電動勢等自動測量

• 標配自動歐姆接觸檢查（V-I圖）

• 可選附件可用于測量薄膜

• 可定制為高電阻